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X射线光电子能谱仪( Nexsa G2)

2025年09月26日 11:09  

X 射线光电子能谱仪(X-ray Photoelectron Spectroscopy,XPS)

仪器型号及国别:Thermo Fisher Scientific Nexsa G2, 捷克

购置年份:2025  

 

核心技术指标

能量分辨率与灵敏度

 大束斑(≤400 µm):2.0 Mcps@0.6 eV;6.5 Mcps@1.0 eV

    小束斑(Φ15–20 µm):30 kcps@0.6 eV;300 kcps@1.0 eV

能量分析器:双聚焦半球型,半径 150 mm

能量扫描范围:0-1500 eV;最小步长 3 meV

通过能(Pass Energy)1-400 eV,连续可调,最小步长 1 eV

探测器:128 通道微通道板探测器(MCP)

电荷中和系统:电子束 + 离子束双束中和源,具备强绝缘体适应能力

绝缘体分析能力:以 PET 样品为例,O–C=O C 1s 峰半高宽可达 0.82 eV(15 kcps)

 

主要功能

元素定性与半定量分析:通过谱峰位置与峰形确定样品表面元素种类及相对含量

化学态与分子结构解析:可区分不同价态、化学键合环境及表面修饰情况

表面与界面研究:适合研究材料表面氧化、腐蚀、吸附、催化反应中间体等

绝缘体样品测试:双束中和源有效抑制充电效应,提升绝缘体样品的测试质量

多尺度分析:支持大面积快速测量与微区精细测试,适应多类材料需求

 

应用领域

材料科学:金属、陶瓷、聚合物、复合材料的表面化学表征

电子与半导体:薄膜、介质层、界面缺陷及能带结构分析

能源与催化:电池、电极材料、催化剂表面活性中心研究

高分子与表面改性:表面官能化、粘附层及涂层分析

环境与纳米科学:污染物吸附、纳米材料表面修饰与功能化研究


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